扩散硅压阻片的测压原理是半导体的电阻变化率与被测压力( )。

admin2018-10-12 59

问题扩散硅压阻片的测压原理是半导体的电阻变化率与被测压力( )。

选项 A、成正比
B、成反比
C、呈线性关系
D、呈一定的函数关系

答案A

解析

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热工仪表检修（高级）

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